Philipp Neuner

Philipp Neuner, MSc

Zimmer: o 4.61

Tel.: +43 (512) 507 - 73273
Fax: +43 (512) 507 - 73399

E-Mail:  Philipp.Neuner@uibk.ac.at



Akademischer Werdegang:

2014 Beginn des Bachelorstudiums Wirtschaftswissenschaften – Management and Economics an der Universität Innsbruck.

2017 Abschluss des Bachelorstudiums Wirtschaftswissenschaften – Management and Economics, in dem er einen Eintrag auf der Dean’s List erreichte. Titel der Bachelorarbeit: „Anonymisierung von Daten“.

2017 Nach dem Abschluss des Bachelorstudiums hat er das Masterstudium Wirtschaftsinformatik an der Universität Innsbruck begonnen.

2019 Abschluss des Masterstudiums Wirtschaftsinformatik, in dem er ebenfalls einen Eintrag auf der Dean’s List erreichte. Titel der Masterarbeit: „Order Release Planning in Semiconductor Manufacturing revisited“.

Seit April 2019 Projektmitarbeiter in Smartproduction 4.0.

2019 Beginn des Doktoratsstudiums PhD Management und seit Mai 2020 Universitätsassistent am Institut für Produktionswirtschaft und Logistik.

Freizeit:

Fußball, Snowboarden, …

Publikationen

(Hinweis: Verwendung der Publikationen (PDFs) nur für den persönlichen, nicht kommerziellen Gebrauch. Eine weitere Verteilung der PDFs ist nicht gestattet.) 

Publikationen 2021

Beiträge in Büchern / Zeitschriften

Zeitschriftenaufsatz (Originalarbeit)
  • Neuner, Philipp; Häussler, Stefan (online first 2021): Rule based workload control im semiconductor manufacturing revisited.
    In: International Journal of Production Research. (DOI) (Weblink)



Publikationen 2020

Beiträge in Büchern / Zeitschriften

Beitrag in Proceedingsband (Full Paper)
  • Neuner, Philipp; Haeussler, Stefan; Ilmer, Quirin (2020): Periodic Workload Control: A Viable Alternative For Semiconductor Manufacturing.
    In: Bae, K.-H.; Feng, B.; Kim, S.; Lazarova-Molnar, S.; Zheng, Z.; Roeder, T.; Thiesing, R.: 2020 Winter Simulation Conference (WSC). Proceedings. 14th-18th Octover, Orlando (Virtual Conference). Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)., ISBN 978-1-7281-9499-8, S. 1765 - 1776. (Weblink)

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