Tomas Hirschfeld Award Christian Huck
Christian Huck (Mitte) erhielt den Tomas-Hirschfeld-Award 2018. Im Bild mit Dan Klevisha (Foss) und Peter Tillman (ICNIRS).

Tomas Hirsch­feld Award für Christian Huck

Univ.-Prof. Christan Huck vom Institut für Analytische Chemie und Radiochemie erhielt kürzlich den Tomas Hirschfeld Award, der jährlich vom International Council for Near Infrared Spectroscopy (ICNIRS) für besondere Leistungen auf dem Gebiet der Nah-Infrarot-Spektroskopie vergeben wird.

Die internationale Auszeichnung erhielt Christian Huck für die Weiterentwicklung und Anwendung der Nah-Infrarot-Spektroskopie (NIR) in den verschiedensten Einsatzgebieten: in den Materialwissenschaften, in der Bioanalytik sowie in der Qualitätskontrolle von Arzneipflanzen und Lebensmitteln. Verleihung und Festvortrag fanden im Rahmen der International Diffuse Reflectance Conference (IDRC) vom 29. Juli bis 2. August 2018 im Wilson College, Chambersburg, PA, USA, statt.
Namensgeber des Preises ist der 1986 verstorbene NIR-Pionier Tomas Beno Hirschfeld. Aktuell wird der Award durch die Firma FOSS analytics gestiftet.


Seit Jahren publiziert Christian Huck wissenschaftliche Beiträge in hochkarätigen Fachzeitschriften, insbesondere seine Beiträge zur Untersuchung von Nano-Materialien und zur schnellen Kontrolle der Blutqualität mithilfe von NIR-Spektroskopie sind laut ICNIRS wichtige Meilensteine.
Darüber hinaus hob das ICNIRS die Entwicklung neuer Methoden hervor, die es erlauben mithilfe von Miniatur-NIR-Instrumenten den optimalen Erntezeitpunkt von Heilpflanzen zu bestimmen und Lebensmittelbetrug schnell zu erkennen.

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