Rasterkraftmikroskopie (AFM) von Oberflächen, Mikro- und Nanostrukturen
20 x 20 µm Contact mode Image eines NaCl- Kristalls, auskristallisiert auf einer Metalloberfläche. Diskrete Plateauhöhen und rechte Winkel geben Aufschluss über Kristallsystem und Häufigkeit von Fehlstellen.
30 x 30 µm Contact mode Image der Beinoberfläche einer schwarzen Wegameise (Lasius Niger). Erkennbar sind einzelne Haare sowie die Schuppenstruktur des Chitin Panzers. Die linienartige Substruktur auf dem Chitin lässt auf die Wachsrichtung schließen.
30 x 30 µm Tapping mode Image der Oberfläche eines Micro-Channel Plates (MCP). Erkennbar ist der wabenförmige Zugang zu den einzelnen Kanälen. Die Unebenheiten auf der ansonsten glatten Oberfläche lassen auf Verunreinigungen wie zum Beispiel Staubpartikel schließen.
7 x 7 µm Contact mode Image einer einzelnen Mottenschuppe. Die organische Leichtbauweise sorgt für Stabilität bei geringen Gewicht und führt auf Grund der gitterartigen Struktur zum Schimmern im Licht.